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ESD/CDM/TLP測(cè)試儀

日本 Hanwa ESD 測(cè)試設(shè)備|HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

Hanwa Electric Products 易捷測(cè)試供應(yīng) Hanwa 半導(dǎo)體芯片ESD測(cè)試機(jī)

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品規(guī)格表

外形尺寸

日本 HANWA ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是必不可少的。

現(xiàn)在可以對(duì)封裝和晶圓進(jìn)行 ESD 測(cè)試！

HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

l 價(jià)格適中的多功能手動(dòng)晶圓級(jí)測(cè)試儀。

l 專用軟件可用于泄漏測(cè)量和判斷。

l 適用于大多數(shù)類型的手動(dòng)探針臺(tái)。

功能特點(diǎn)：

1. 可顯示真實(shí)設(shè)備的 ESD 波形

2. 可在放電后自動(dòng)對(duì) V/I 測(cè)量值進(jìn)行破壞性評(píng)估，性價(jià)比極高。

3. 執(zhí)行 HBM/MM 電暈（符合 JEDEC/ESDA/JEITA）。

4. 用兩根針連接任何設(shè)備，如晶圓。

5. 可在客戶的手動(dòng) PROBER 上安裝斬波裝置。

6. 包裝設(shè)備的測(cè)試結(jié)果一目了然。

操作屏顯示案例：

Wafer ESD 測(cè)試機(jī)系列

此設(shè)備是可以在Wafer level上進(jìn)行HBM,MM測(cè)試的設(shè)備

產(chǎn)品名/型號(hào)	設(shè)備說明
HED-W5100D	全自動(dòng) Wafer ESD測(cè)試機(jī) 從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據(jù)漏電流測(cè)試判斷pass/fail 并且可以與ESD測(cè)試有關(guān)聯(lián)性的TLP測(cè)試設(shè)備進(jìn)行組合測(cè)試對(duì)ESD測(cè)試中發(fā)生問題的器件，能有效取得保護(hù)電路中的工作參數(shù) 是滿足日本、國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格）
HED-W5000M	高性能半自動(dòng)Wafer level ESD測(cè)試機(jī) 通過操作探針座，可以輕松地決定兩個(gè)管腳之間的位置在印加脈沖后，可以通過漏電流測(cè)試判斷pass/fail。
HED-W5000M-SP0	Low Cost Wafer ESD Tester 低成本、高性能可通過開放控制軟件構(gòu)建廣泛應(yīng)用程序
HED-W5000M-WFC	Wafer level ESD測(cè)試機(jī) 在對(duì)集成電路中保護(hù)電路工作參數(shù)的收集與分析上，雖然TLP測(cè)試機(jī)起到了很大的作用，但是在半導(dǎo)體制程細(xì)微化的發(fā)展中，為了提高對(duì)ESD的抵抗性，保護(hù)電路需要更快的研發(fā)速度 HED-W5000M-WFC測(cè)試機(jī)，因其可以觀測(cè)到被印加到器件上的實(shí)際的ESD波形，所以有助于收集、分析保護(hù)電路參數(shù)以及縮短研發(fā)速度