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ESD/CDM/TLP測試儀

HANWA 桌上便攜式ESD測試機 HCE-5000

獨立的ESD測試系統（不用PC和曲線示蹤劑）。Hanwa 緊湊型ESD測試儀改進版

產品概述

產品規(guī)格表

外形尺寸

芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試/失效分析期間進行。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是必不可少的。

Hanwa HCE-5000：

超緊湊型便攜式ESD測試機（HBM，MM，HMM）測試儀

l 獨立的測試系統，攜帶方便，空間占用率小，性價比高

l 不用搭配其他PC或Curve tracer便可獨立完成HBM、MM和漏電測試

l 適用于現場測試。配有曲線跟蹤器，用于通過/失敗判斷，推薦給IC制造商和最終用戶。

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Hanwa緊湊型ESD測試儀是獨站的ESD測試系統，設計改進為緊湊、靈活性和可攜帶的桌上設備。從而節(jié)少了空間和成本。能夠操作HBM、MM和泄露測量，無需PC和曲線追蹤劑。

返回列表

通過觸摸屏-面板界面，操作方便	可以設置沒有PC
基于各種標準	滿足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA的HBM/MM
泄露和曲線跟蹤	有能力判斷之前/之后。方法1：變更總量方法2：絕對值
HBM快速/緩慢單元（可選）	可以改變實驗和測量的上升時間嗎？快速上升時間=2-3ns，緩慢上升時間=8-10ns(std=5-7ns)