深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號(hào)世貿(mào)廣場(chǎng)C座1203室
NC6000A/8000A系列—AWGN噪聲發(fā)生器
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于:WAT/CP測(cè)試、I-V/C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
Noisecom NC6000A和NC8000A系列儀器設(shè)計(jì)用于臺(tái)式或機(jī)架測(cè)試站中的通用噪聲測(cè)試應(yīng)用。手動(dòng)控制使操作簡(jiǎn)單,提升測(cè)試設(shè)置效率,節(jié)省時(shí)間。標(biāo)準(zhǔn)輸出的NC6000A常見于BER、SNR測(cè)試,大功率輸出的NC8000A非常適合做信號(hào)阻塞用。設(shè)備內(nèi)置精準(zhǔn)的噪聲源,提供可重復(fù)的對(duì)稱高斯白噪聲并且集成了放大、衰減和供電,設(shè)備支持定制。
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特色指標(biāo):
1. 加性高斯白噪聲輸出
2. 1dB步進(jìn),0 – 10dB衰減量程
3. 50歐姆阻抗,1.5:1典型駐波比;標(biāo)準(zhǔn)SMA接口
4. 尺寸:(NC6000A) 寬8.5 in. x 高 5 in.x 深12.25 in.
(NC8000A) 寬17 in. x 高5.25 in.x 深 13 in.
應(yīng)用:
1. BER測(cè)試和SNR應(yīng)用
2. 信號(hào)干擾和阻塞
3. “K”波段能力
4. CATV測(cè)試
5. 視頻測(cè)試
6. 常規(guī)應(yīng)用
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